简介

荷兰飞纳推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源,使用户可以轻松获得高分辨率图像,且低电压性能优异。Phenom Pharos G2 低电压成像优势明显,可减轻电子束对样品的损伤和穿透,更好地观测绝缘和电子束敏感的样品,可以最大程度还原样品真实形貌。

第二代台式场发射电镜的分辨率提升至优于 1.8nm,广泛用于半导体、生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。

 

下载规格表

规格参数

 

Phenom ProX

Phenom Pharos G1

Phenom Pharos G2

光学放大

27 - 160 X

20 - 135 X

27 - 160 X

电子光学放大

350,000 X

1,000,000 X

2,000,000 X

分辨率

优于 6 nm

优于 2.2 nm

优于 1.8 nm

电子枪

CeB6

肖特基场发射电子枪

肖特基场发射电子枪

光学导航相机

彩色

彩色

彩色

加速电压

4.8 kV - 20.5 kV  连续可调

2 kV - 15 kV  连续可调

1 kV - 20 kV  连续可调

真空模式

高分辨率模式

降低荷电效应模式(可选)

高分辨率模式

降低荷电效应模式

高分辨率模式

降低荷电效应模式

探测器

背散射电子探测器

二次电子探测器 (选配)

能谱探测器

背散射电子探测器

二次电子探测器

能谱探测器 (选配)

背散射电子探测器

二次电子探测器

能谱探测器 (选配)

  下载飞纳电镜手册 下载飞纳电镜手册 下载飞纳电镜手册

 

展示

案例分析

复纳科学仪器(上海)有限公司 飞纳中国 版权所有