简介
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飞纳 Phenom ParticleX 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。 粉末的尺寸、形状和化学性能对于粉末床的行成、熔池和微观均质性可能会产生重大影响。激光粒度仪虽然可以检验粉末粒度和形状，但无法自动检测和分析杂质颗粒。 Phenom ParticleX 专为工业环境使用而开发，可进行所有这些工作，并可生成标准报告，显示尺寸和形状分布以及识别污染颗粒。 同时具备纳米级分辨率成像功能，分辨率为 10 nm，可以对断口表面、单个颗粒和表 面缺陷（如气孔、夹杂物和微裂纹）进行高分辨率成像。 |
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规格参数
Phenom ParticleX |
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| 光学放大 |
3 - 19 X |
| 电子光学放大 |
200,000 X |
| 分辨率 |
优于 8 nm |
| 光学导航相机 |
彩色 |
| 加速电压 |
4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 真空模式 |
高分辨率模式 降低核电效应模式 高真空模式 |
| 探测器 |
背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) 能谱探测器 |
| 下载 Particle X 手册 |
