简介

Phenom ParticleX 以扫描电镜 + 能谱仪为硬件基础,通过背散射成像的明暗衬度识别颗粒,进而对颗粒进行能谱成分分析,根据颗粒形貌和成分信息对其智能分类,并且可以一键生成检测结果的报告。

飞纳 Phenom ParticleX 自动识别并采集所有杂质颗粒的形貌及成分信息。清晰的表面形貌有助于分析杂质的产生机理(如摩擦磨损等),成分信息有助于分析杂质产生的来源。

杂质的分析结果严格按照 VDA19 要求的格式呈现,颗粒分类统计结果更有助于评估锂电池生产的清洁度情况,方便不同批次样品的对比,以及生产工艺调整的验证。

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规格参数

 

Phenom ParticleX

光学放大

3 - 19 X

电子光学放大

200,000 X

分辨率

优于 8 nm

光学导航相机

彩色

加速电压

4.8 kV - 20.5 kV 连续可调

真空模式

高分辨率模式

降低核电效应模式

高真空模式

探测器

背散射电子探测器

二次电子探测器 (选配)

能谱探测器

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展示

拓展软件

样品杯

案例分析

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