简介
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Phenom ParticleX 以扫描电镜 + 能谱仪为硬件基础，通过背散射成像的明暗衬度识别颗粒，进而对颗粒进行能谱成分分析，根据颗粒形貌和成分信息对其智能分类，并且可以一键生成检测结果的报告。 飞纳 Phenom ParticleX 自动识别并采集所有杂质颗粒的形貌及成分信息。清晰的表面形貌有助于分析杂质的产生机理（如摩擦磨损等），成分信息有助于分析杂质产生的来源。 杂质的分析结果严格按照 VDA19 要求的格式呈现，颗粒分类统计结果更有助于评估锂电池生产的清洁度情况，方便不同批次样品的对比，以及生产工艺调整的验证。 |
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规格参数
Phenom ParticleX |
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| 光学放大 |
3 - 19 X |
| 电子光学放大 |
200,000 X |
| 分辨率 |
优于 8 nm |
| 光学导航相机 |
彩色 |
| 加速电压 |
4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 真空模式 |
高分辨率模式 降低核电效应模式 高真空模式 |
| 探测器 |
背散射电子探测器 二次电子探测器 (选配) 能谱探测器 |
| 下载 Particle X 手册 |