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荷兰飞纳推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源,使用户可以轻松获得高分辨率图像,且低电压性能优异。

 

 

第二代台式场发射电镜 Phenom Pharos G2 的分辨率提升至优于 1.8 nm,广泛用于半导体、生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。

1 - 分辨率优于 1.8 nm

具有卓越的成像质量,是目前分辨率最高的台式扫描电镜。优于 1.8 nm 的分辨率,可以轻松获取样品的更多细节信息。

样品:金颗粒  放大倍数:50万倍

2 - 加速电压低至 1kV

新一代场发射系列低电压性能优异,加速电压范围向下调低至 1kV, 无需特殊制样,无需担心荷电,可减轻电子束对样品的损伤和穿透,更好地观测绝缘和电子束敏感的样品,可以最大程度地还原样品的真实形貌。

  

5 kV 充电严重                                                          1 kV 充电消失

3 - UI 界面全面升级

一切以图像为中心,用户界面全面升级,取消传统的能谱独立显示屏,将电镜、能谱、全景拼图等操作界面集成在 1 个 24 英寸显示屏上,为用户提供最佳的操作体验。无需切换即可使用实时能谱功能,在成像的同时,快速获取成分信息。

基本参数

· 灯丝材料:肖特基场发射灯丝
· 分辨率 :优于 1.8nm
· 电子放大:最大 200 万倍
· 加速电压:1kV-20kV, 连续可调
· 内置 UPS(不间断电源)适配器
· 全面升级为新 UI:电镜、能谱等在同一界面

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