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扫描电镜用户故事|微加工中的颗粒分析
2022-05-05
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随着电子设备、医疗设备和电机等产品对小型精密加工零件的需求,精密微加工在全球范围内变得越来越重要。如今,制造商在微观层面研磨及加工各种材料,他们越来越多地使用扫描电镜 (SEM) 来评估产品质量,并对制造过程中可能出现的污染物进行颗粒分析。根据这些污染物的物理和化学性质,针对性地对昂贵的微加工设备进行维护,从而实现长期性的节省成本。

 

例如,德国高精度机械铣床制造商 KERN Microtechnik ,希望通过确定烟灰颗粒在加工过程中进入陶瓷的原因和方式,从而帮助其客户降低制造成本。需要注意的是这些颗粒会降低陶瓷的加工速度和精度,并损坏最终产品。

 

烟灰颗粒可以通过多种方式引入陶瓷制造过程:来自聚合油在铣床上热分解、来自钻头的金属部件或来自铣削件本身。通过识别烟尘颗粒的形态和化学成分,制造商可以确定根本原因并采取纠正措施,无论是对研磨机进行维护还是调整研磨配方以确保满意的质量。

 

飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 结合能谱 (EDS) ,帮助 KERN Microtechnik 进行颗粒分析,可以快速识别在加工过程中进入陶瓷的烟灰颗粒的形态和元素组成。直观的用户操作界面,短时间内可以实现加载样品和获得结果,使质量控制专家能够轻松确定污染物的形貌和成分。

 

 

 

EDS 结果显示颗粒中存在硅元素,表明烟灰颗粒的陶瓷性质。因此,烟灰颗粒不是由油的化学降解或研磨设备上部件的磨损产生的。如果使用没有配备能谱(EDS)的扫描电镜(SEM),就不可能进行这种元素分析。

 

 

与其他扫描电镜(SEM)相比,飞纳台式扫描电镜更快速,用户可以在一分钟内获得高清的图片。台式扫描电镜的外形尺寸小,仅需要很少的实验室空间,并且允许用户将扫描电镜放置在实验室或生产线上的合适位置,从而进行实时分析。

 

通过 Phenom XL G2 台式电镜的帮助,KERN Microtechnik 不仅协助客户优化高精度铣削工艺和降低制造成本,还确立了自己在创新技术上的地位。Phenom XL G2 是一款用于质量控制的多功能扫描电镜,可帮助制造商快速分析夹杂物或颗粒,以便改进多种材料的研磨和加工过程。

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