电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中,两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)。
扫描电镜(SEM)利用电子束对样品进行纳米级分辨率的图像分析。灯丝释放出电子,形成平行的电子束。
在进行扫描电镜(SEM)分析时,为了获得感兴趣区域最佳的图像效果,必须考虑一些重要的参数。其中一个很重要的参数就是加速电压。
扫描电镜(SEM)是一种用途广泛的科学仪器,它可以根据用户的需求提供样品不同类型的信息。在这里我们将阐述在扫描电镜(SEM)中产生的不同类型的电子,它们是如何被检测出来的,以及它们可以提供的信息等。
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