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The use of Phenom electron microscopes has become an indispensable part of researching the surface and internal morphological structure, composition, and other aspects of polymer materials. This plays a crucial role in studying their strength, wear resistance, chemical stability, corrosion resistance, degradability, biocompatibility, and more.
Load samples in one step, evacuate in 15 seconds, and achieve images in 30 seconds. Helpful in fast sample filtering, analysis position and the sample's pre-processing result confirming.
Excellent low voltage imaging capability, maximally restoring the true morphology of the sample.
Simplifies the sample preparation process and suitable for various types of semiconductor materials.
Phenom desktop SEM feature patented anti-vibration technology and can be placed in various environments, such as FA lab, high-rise office buildings, even next to production lines, allowing on-site sampling and observation.
材料失效分析研讨会
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