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The performance of carbon materials is closely related to the surface and internal microstructure. Phenom SEM is used to characterize the surface and internal microstructure.
Phenom desktop SEM feature patented anti-vibration technology and can be placed in various environments, such as FA lab, high-rise office buildings, even next to production lines, allowing on-site sampling and observation.
Load samples in one step, evacuate in 15 seconds, and achieve images in 30 seconds. Helpful in fast sample filtering, analysis position and the sample's pre-processing result confirming.
Simplifies the sample preparation process and suitable for various types of semiconductor materials.
Excellent low voltage imaging capability, maximally restoring the true morphology of the sample.
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