网络研讨会｜SEM/TEM离子束制样新技术：离子研磨仪，离子精修仪，离子减薄仪
2025-10-13
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随着电子显微技术的不断进步，如何高效、精确地制备高质量的薄片已成为材料科学和纳米技术领域的重要议题。作为一种常用的薄片制备方法，聚焦离子束（FIB）技术虽被广泛应用，但在使用过程中会涉及到高能离子及 Ga 的使用，这可能引入不必要的离子注入。为了克服这一局限性，宽离子束（BIB）技术逐渐受到关注，并展现出其在降低损伤、提高样品质量方面的优势。
为了更好地理解和应用 BIB 技术，我们诚挚邀请您参加本次专题研讨会。
关键词：SEM / TEM 样品制备
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