半导体组件变得越来越小、更快、更复杂。随着创新不断突破界限,了解纳米尺度上发生的事情变得比以往任何时候都重要 。使用 AFM-in-SEM 联用技术,您将获得一个强大的半导体失效分析工具,包括精确的掺杂浓度映射和电学特性分析——所有这些都直接在您现有的 FIB/SEM 环境中进行。
本次会议特邀司特尔应用专家,通过行业前沿技术分享、实际案例分析,助力参会者提升专业技能,推动电子半导体行业的技术创新和产业升级。诚邀您参会
会议时间:2025年6月18日14:00-15:30
复纳科学仪器(上海)有限公司应用工程师蔡维佳将在专场四--锂电失效机理与分析技术应用专场,带来【锂电池失效分析、清洁度管控与原材料 ALD 改性研究】主题报告,报告时间为 2025 年 5 月 29 日 10:00-10:30,欢迎报名预约观看
2025年6月24日-27日,仪器信息网与中国电子显微镜学会将联合主办“第十一届电子显微学网络会议(iCEM 2025)” 。会议围绕当下电子显微学主要仪器技术及应用热点,邀请业界知名电子显微学专家、电子显微学仪器技术专家、电子显微学应用专家等线上分享精彩报告。
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