在枪支犯罪事件中,枪击残留物 GSR 的分析将发挥重要的作用。GSR 分析技术首先基于扫描电子显微镜 (SEM) 的背散射成像,用来扫描样品和发现可疑的 “GSR” 颗粒。一旦发现可疑的颗粒,使用能谱(EDS)识别在该粒子中的元素。较常见的搜索元素为 Pb,Sb 和 Ba。无铅底火的检测,例如 Ti 和 Zn 也可作为搜索条件进行搜索。
产品型号 | Phenom GSR | Phenom Pro | Phenom Pure |
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产品图片 | ![]() |
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产品全称 | GSR 枪击残留物分析 | Pro 高分辨率专业版 | Pure 高性价比标准版 |
光学放大 | 3 - 19 X | 27 - 160 X | 27 X |
电子光学放大 | 200,000 X | 350,000 X | 175,000 X |
分辨率 | 优于 8 nm | 优于 6 nm | 优于 10 nm |
电子枪 | 优于 1,500 小时 CeB6 灯丝 | 优于 1500 小时 CeB6 灯丝 | 优于 1500 小时 CeB6 灯丝 |
光学导航相机 | 彩色 | 彩色 | 彩色 |
加速电压 | 4.8kV – 20.5kV 连续可调 | 4.8 KV - 20.5 KV 连续可调 | 5 kV, 10 kV |
真空模式 | 低 - 中 - 高三种模式 | 高 - 低真空 | 高 - 低真空 |
探测器 | 背散射探测器 二次电子探测器(选配) 能谱探测器 |
背散射探测器 二次电子探测器(选配) |
背散射探测器 二次电子探测器 能谱探测器(选配) |
全自动功能 | 自动枪击残留物分析 | ||
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走近飞纳电镜之-专利防震篇
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