登录/注册
咨询热线：400-857-8882
产品咨询
EN

仪器表面颗粒物分析仪 SAS
可视化颗粒检测
荷兰飞纳电镜 离子研磨抛光仪 台式纳米CT 原位透射样品杆 PALD粉末包覆 纳米颗粒制备和沉积
仪器表面颗粒物分析仪 SAS
环境落尘颗粒实时监控仪 PFS 晶圆表面颗粒物快速检测系统 PDS 保护膜表面颗粒物快速检测系统 PDS
PDF下载
Product Introduction
仪器表面颗粒物分析仪（SAS）
产品概况
产品概况

Fastmicro 仪器表面颗粒物分析仪，是一款基于“胶带粘取”采样技术的表面污染检测工具，可通过间接测量方式识别小至 0.5um 的颗粒污染物。其配备的专用 PMC 采样卡能在各类表面（包括难以触及区域和高粗糙度表面）实现灵活采样，且不会残留可检测的痕迹。该设备可在数秒内完成 225 mm2 采样区域的分析，确保快速获得精准检测结果。搭配 2 英寸晶圆支架，也可对沉降颗粒进行检测，满足跨行业复杂场景的检测需求。

产品特点
  • 符合 ISO 14644-9 标准：在用户界面生成具有认证的 PDF 报告
  • 检测范围：可检测低至 0.5 um 颗粒
  • 稳定：90% 采集效率 | >90% 重复性
  • 快速：10 秒完成检测
仪器表面颗粒物分析仪 SAS
Download Center
下载中心

如果您想要了解更多产品信息，请填写以下信息下载产品手册, 我们收到您的信息后将第一时间回复您。

  • *
  • *
  • *
  • *
  • *
扫描二维码，预约测试样品
上海 北京 广州 成都
400-857-8882

邮箱：info@phenom-china.com

地址：上海市闵行区申滨路 88 号
           上海虹桥丽宝广场 T5，705 室

400-857-8882

邮箱：info@phenom-china.com

地址：北京市海淀区四环北路119号

           四季慧谷数字园区A座一层118室

400-857-8882

邮箱：info@phenom-china.com

地址：广州市黄埔区广州国际生物岛螺旋大道 87 号

           标准产业单元四期配套园区 C 栋 601-602

400-857-8882

邮箱：info@phenom-china.com

地址：四川省成都市武侯区桂溪街道高新区

           锦云东三巷 1 号金融麦田 C106

微信
微信
链接
链接
链接
链接
新浪微博
新浪微博

@ 2022 复纳科学仪器(上海) 有限公司 飞纳电镜 版权所有 沪ICP备12015467号-1

TOP