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Product Introduction
产品简介

全新发布的 AFM-in-Phenom XL 结合了扫描电子显微镜 (SEM) 和原子力显微镜 (AFM) 的优势，实现了在同一系统中对样品进行多模态（SEM 及 AFM 形貌、元素、机械、电学、磁学）关联分析。

 

· 设备扫描范围（开环）：100μm×100μm×20μm

· 设备扫描范围（闭环）：80μm×80μm×16μm

· 分辨率：0.2nm×0.2nm×0.04nm

· 最大样品尺寸：21mm×11mm×8mm

· 最大样品重量：100g

· 成像模式：表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等

AFM-SEM
AFM-SEM
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Practical features
实用特点
操作简单
操作简单
操作简单

直接更换样品杯即可切换到 AFM 模式。

原位表征和精确定位感兴趣区域
原位表征和精确定位感兴趣区域
原位表征和精确定位感兴趣区域

SEM 与 AFM 原位联用，保证了同一时间、同一地点和相同条件下的分析；使用 SEM 画面，实时观测探针与样品的相对位置，为探针提供导航，精准定位。

实现复杂的样品分析需求
实现复杂的样品分析需求
实现复杂的样品分析需求

提供机械、电气、磁学、光谱等多种测量模式，且能同一位置直接联用SEM及EDS功能。同时获取AFM与SEM数据，并将其无缝关联。

Application
应用案例
药物载体介孔粉末颗粒表征
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半导体材料-二硫化钼（MoS2）
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CPEM 示意图
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药物载体介孔粉末颗粒表征
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半导体材料-二硫化钼（MoS2）
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CPEM 示意图
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Application Cases
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