
飞纳电镜 Phenom 更适合QC实验室中的高频形貌观察、异常颗粒复查、SEM-EDS元素分析、大样品检查、批次对比和专用颗粒自动分析。具体型号应根据样品、分析深度和工作量选择。
粉末、颗粒、金属表面、涂层、膜材、断面和零部件表面等样品,可先通过SEM观察颗粒形状、团聚、表面纹理、裂纹、孔洞和附着状态。Phenom Pro 可用于这类日常形貌任务。

腐蚀后的高温合金扫描电镜图

铁镀层扫描电镜图
当QC人员发现亮点、异物或局部异常时,Phenom ProX 可在形貌观察后继续进行EDS,补充主要元素组成。元素结果有助于缩小排查范围,但实际来源仍需结合原材料、设备接触部件、工艺和环境记录判断。
如果样品尺寸较大、切割会影响关注区域,或者实验室希望一次装载多个样品,可评估 Phenom XL。选型时应核对实际样品的长宽高、观察面位置和样品台移动需求。
半导体、纳米材料、催化材料和其他微纳结构样品,对细节和分辨率要求较高时,可进一步了解 Phenom Pharos 台式场发射扫描电镜。QC实验室是否需要该配置,应根据日常判定尺寸和样品频率决定。
对于整张滤膜扫描、颗粒识别、EDS分析、分类统计和报告输出,可按行业评估专用系统。汽车清洁度对应 Particle AC,锂电清洁度与异物颗粒对应 ParticleX Battery,钢铁非金属夹杂物对应 ParticleX Steel。
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QC任务 |
可评估配置 |
主要信息 |
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常规表面、断面和颗粒形貌 |
Phenom Pro |
形貌、尺寸、缺陷和批次对比图像 |
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未知颗粒或异常区域 |
Phenom ProX |
SEM形貌与EDS主要元素信息 |
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较大部件或多样品 |
Phenom XL |
大样品装载与多区域观察 |
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微纳结构细节 |
Phenom Pharos |
台式场发射高分辨成像 |
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行业颗粒自动分析 |
Particle专用系统 |
自动识别、分类、统计和报告 |
晶体结构、化学价态、痕量元素、内部三维结构、复杂原位过程和正式法规判定,需要结合相应测试方法。扫描电镜更适合提供微观形貌和主要元素信息,并为后续分析确定重点区域。
QC实验室选择飞纳电镜 Phenom,应把样品、工作量、EDS需求和报告方式放在一起评估。Pro、ProX、XL、Pharos及Particle专用系统分别对应不同任务,清楚分工比笼统追求高参数更符合日常质量工作。


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