
金属材料失效分析不只是看一处断口或缺陷的照片。很多失效问题背后同时包含形貌变化、材料组织变化、夹杂物、腐蚀产物、污染颗粒和局部元素异常。如果只看表面形貌,往往只能判断“异常长什么样”;如果结合 EDS 能谱分析,才更容易进一步判断。
本文介绍飞纳电镜 Phenom 在失效分析中的应用,覆盖金属断口、涂层脱落、颗粒污染、粉末异常、材料裂纹和电子材料失效等场景,说明台式 SEM、SEM-EDS、Phenom ProX 和 Phenom Pharos 在失效初判、异常定位和微观证据获取中的价值。


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