- 成像模式:BF、DF、HAADF、自定义
- 分辨率优于 1 nm

催化剂纳米颗粒的形貌、分布、尺寸和化学组成会影响其催化性能。对于尺寸进入纳米尺度、元素分布需要与颗粒位置对应的样品,仅观察颗粒轮廓往往不够,还需要把扫描透射成像与 EDS 元素分析结合起来。
飞纳电镜 Phenom STEM 台式扫描透射电子显微镜可在透射模式下观察标准 3 mm TEM 网格样品,并结合 EDS Mapping 分析元素含量和空间分布,适用于催化剂、纳米材料、电池、合金和生物技术等研究方向。
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形貌 |
观察颗粒外形、团聚状态和载体表面结构 |
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尺寸 |
测量纳米颗粒大小并比较颗粒间差异 |
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分布 |
判断颗粒在载体上的分散情况 |
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化学组成 |
确认颗粒及载体包含的元素 |
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元素位置 |
通过 EDS Mapping 对应元素与颗粒的空间分布 |
STEM 可以在透射模式下观察薄样品内部结构和颗粒对比,EDS 则补充元素组成与分布信息。两种结果结合后,可以回答“颗粒在哪里、尺寸多大、由哪些元素组成以及不同元素如何分布”等问题。
Phenom STEM 支持明场 BF、暗场 DF、环形暗场 HAADF 和自定义成像模式。不同模式能够提供不同的对比度信息,帮助观察纳米颗粒、载体和薄样品结构。
EDS Mapping 可进行点、线、面分析。使用者可以根据任务设置分析范围、空间分辨率和停留时间,并通过实时能谱查看选定区域的元素含量与分布情况。对于多元素纳米催化剂,这种分析方式可以把高亮颗粒与具体元素位置对应起来。

图 1 CN(Co)-Pt 光催化材料的 HAADF-STEM 与 EDS 元素分布图,比例尺 20 nm
图中样品为用于光催化过程的光束敏感材料 CN(Co)-Pt。该催化剂利用铂和钴纳米颗粒的协同行为提升催化效率。HAADF-STEM 图像用于观察颗粒和载体结构,EDS 元素分布图则显示 Pt、Co、C、O、N 等元素的位置。
从图像可以看到,Pt 对应的高亮区域分布在载体表面,其他元素分布图补充了载体和相关组分的信息。对这类多组分纳米催化剂,STEM-EDS 联合分析能够把颗粒形貌和元素组成放在同一位置关系中判断。
部分催化剂材料对电子束较敏感。扫描电子显微镜可以在低加速电压和低束流条件下进行成像,以减少样品受到电子束影响的风险。具体加速电压、束流和停留时间,需要根据样品稳定性与目标分辨率进行设置。
Phenom STEM 样品台适配标准 3 mm TEM 网格,并整合到用户界面中。对于已经熟悉 SED、BSD 和 EDS 操作模式的使用者,可以在同一界面中切换 STEM 成像与分析功能。
系统可通过少量操作在明场和暗场成像之间切换,从样品加载到获得 STEM 图像所需时间少于三分钟。对于需要频繁查看催化剂纳米颗粒、比较多个区域或快速确认样品状态的任务,这种流程有助于缩短从装样到成像的准备时间。
Phenom STEM 可用于催化剂纳米颗粒形貌观察、粒径与分散状态分析、HAADF 对比成像、EDS 点线面分析及元素分布 Mapping。对于需要更大面积纳米颗粒数据的项目,还可以结合自动化工作流程和相应软件工具开展数据采集。
催化剂纳米颗粒为什么要同时做 STEM 和 EDS
STEM 负责观察颗粒形貌、尺寸和分布,EDS 负责确认元素组成及空间位置。联合分析能够把颗粒结构与化学组成对应起来。
Phenom STEM 支持哪些成像模式
支持 BF、DF、HAADF 和自定义成像模式。
Phenom STEM 使用什么样品载网
样品台适配标准 3 mm TEM 网格。
从装样到 STEM 成像需要多长时间
从样品加载到进行 STEM 成像所需时间少于三分钟。
对于催化剂纳米颗粒,形貌、尺寸、分布和元素组成需要结合判断。飞纳电镜 Phenom STEM 通过 BF、DF、HAADF 等透射成像模式和 EDS 点线面分析,为催化剂纳米颗粒提供结构与成分相互对应的表征信息。


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