网络研讨会｜半导体封装检测及失效分析高效制样方法
2025-04-16
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为深度把握半导体先进封装与失效分析技术前沿动态，仪器信息网定于 2025 年 4 月 22 日至 23 日举办第四届半导体封装检测及失效分析技术进展网络研讨会。
失效分析对于纠正设计和研发错误、完善产品、提高产品良品率和可靠性有重要意义，复纳科技可以提供简单、时效、精确的电子半导体材料检测方案，对于失效模式的确定有极大的帮助。
关键词：扫描电镜，网络研讨会
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