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SEM can directly observe the structure, particle size, distribution, uniformity and agglomeration of nanomaterials. Combined with EDS, it can also analyze the micro-region components of nanomaterials and determine the composition of nanomaterials.
Phenom desktop SEM feature patented anti-vibration technology and can be placed in various environments, such as FA lab, high-rise office buildings, even next to production lines, allowing on-site sampling and observation.
Load samples in one step, evacuate in 15 seconds, and achieve images in 30 seconds. Helpful in fast sample filtering, analysis position and the sample's pre-processing result confirming.
Simplifies the sample preparation process and suitable for various types of semiconductor materials.
Excellent low voltage imaging capability, maximally restoring the true morphology of the sample.
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