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Using SEM to observe the morphology, particle size and particle size distribution of powder samples can provide intuitive and accurate results. This way is widely used in scientific research and production. Phenom SEM can flexibly deal with conductive or poorly conductive powder samples, and perform microscopic morphology observation and composition analysis.
Phenom desktop SEM feature patented anti-vibration technology and can be placed in various environments, such as FA lab, high-rise office buildings, even next to production lines, allowing on-site sampling and observation
Load samples in one step, evacuate in 15 seconds, and achieve images in 30 seconds. Helpful in fast sample filtering, analysis position and the sample's pre-processing result confirming
Simplifies the sample preparation process and suitable for various types of semiconductor materials
Excellent low voltage imaging capability, maximally restoring the true morphology of the sample
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