Hotline：400-857-8882
Phenom SEM, combined with a super-large sample chamber, can conduct static microscopic morphology observation and elemental analysis of functional materials.
Phenom desktop SEM feature patented anti-vibration technology and can be placed in various environments, such as FA lab, high-rise office buildings, even next to production lines, allowing on-site sampling and observation
Load samples in one step, evacuate in 15 seconds, and achieve images in 30 seconds. Helpful in fast sample filtering, analysis position and the sample's pre-processing result confirming
Simplifies the sample preparation process and suitable for various types of semiconductor materials
Excellent low voltage imaging capability, maximally restoring the true morphology of the sample
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