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Magnetic samples are accompanied by magnetic fields that will affect electronic signals, and the magnetic of contaminants is harmful to electron microscopy imaging. Therefore, it is challenging to observe magnetic samples with SEM. Phenom SEM can easily solve these challenges through the unique design of the objective lens without magnetic leakage, and quickly take clear and sharp pictures and accurate EDS results.
Phenom desktop SEM feature patented anti-vibration technology and can be placed in various environments, such as FA lab, high-rise office buildings, even next to production lines, allowing on-site sampling and observation
Load samples in one step, evacuate in 15 seconds, and achieve images in 30 seconds. Helpful in fast sample filtering, analysis position and the sample's pre-processing result confirming
Simplifies the sample preparation process and suitable for various types of semiconductor materials
Excellent low voltage imaging capability, maximally restoring the true morphology of the sample
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