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Phenom SEM can effectively observe the microscopic morphology and analyze the components of hard materials, and using the particle statistical analysis system, it can automatically statistically analyze the particle size and distribution of powder raw materials.
Phenom desktop SEM feature patented anti-vibration technology and can be placed in various environments, such as FA lab, high-rise office buildings, even next to production lines, allowing on-site sampling and observation.
Load samples in one step, evacuate in 15 seconds, and achieve images in 30 seconds. Helpful in fast sample filtering, analysis position and the sample's pre-processing result confirming.
Simplifies the sample preparation process and suitable for various types of semiconductor materials.
Excellent low voltage imaging capability, maximally restoring the true morphology of the sample.
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