在摩尔定律的驱动下,半导体制造工艺持续迈向微观极限。一颗肉眼无法察觉的微粒,一次微不足道的分子污染,都足以让价值数亿欧元的光刻机性能受损,导致芯片良率骤降。在这场对抗污染的无声战役中, 清洁度即是竞争力。Fastmicro SAS(Sample Scanner)系列产品,正是这场战役中不可或缺的尖端侦察兵,为全球半导体设备龙头 ASML 及其庞大供应链的精准管控,提供了至关重要的数据基石。
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