登录/注册
咨询热线：400-857-8882
产品咨询
EN
应用案例
最新发布
应用案例
SEM/TEM样品制备
飞纳电镜和离子研磨仪在元器件封装失效分析的案例分享
飞纳电镜和离子研磨仪在元器件封装失效分析的案例分享
2022-10-14
1651

如果说电子芯片，是沙子千锤百炼的蜕变；那电子器件封装，是它一展拳脚的筋骨肉身。电子器件封测的成功总是千篇一律，但不成功的封装却总是千奇百怪，话不多说，开始喽！ 

关键词：
扫描电镜，离子研磨仪，电子半导体
<1>
扫描二维码，预约测试样品
上海 北京 广州 成都
400-857-8882

邮箱：info@phenom-china.com

地址：上海市闵行区申滨路 88 号
           上海虹桥丽宝广场 T5，705 室

400-857-8882

邮箱：info@phenom-china.com

地址：北京市海淀区四环北路119号

           四季慧谷数字园区A座一层118室

400-857-8882

邮箱：info@phenom-china.com

地址：广州市黄埔区广州国际生物岛螺旋大道 87 号

           标准产业单元四期配套园区 C 栋 601-602

400-857-8882

邮箱：info@phenom-china.com

地址：四川省成都市武侯区桂溪街道高新区

           锦云东三巷 1 号金融麦田 C106

微信
微信
链接
链接
链接
链接
新浪微博
新浪微博

@ 2022 复纳科学仪器(上海) 有限公司 飞纳电镜 版权所有 沪ICP备12015467号-1

TOP