
为获得颗粒的材质属性,需要采用扫描电镜 / X 射线能谱仪(SEM/EDX)分析方法。飞纳 ParticleX 全自动清洁度分析系统,以扫描电镜和能谱仪为硬件基础,可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计,允许工程师看见微米尺寸的颗粒并确定其化学成分,从而判断出污染源,为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。
SEM / EDX 分析从之前的深入分析法调整为标准分析,SEM / EDX 分析方法可精准分析金属非金属颗粒成分组成,从而对应其硬度等级划分,结合高分辨率电镜图片可以精准溯源。
清洁度一般指汽车零件、总成及整机等部位被颗粒物污染的程度,用规定的方法从特定的部件采集到颗粒物的质量、大小、形状、数量、材料种类等特征参数来表征。具体采用何种方法及指标对颗粒物进行测试分析,取决于不同颗粒物对部件性能的影响程度及清洁度控制精度要求。
2018 年 12 月,新版的国际标 准 ISO 16232 - 2018《道路车辆部件和系统的清洁度》发布实施,本文基于该标准,解读了扫描电镜 / X 射线能谱仪(SEM/EDX)分析方法,并运用该方法进行铝合金压铸件颗粒物的测试分析。
EDS+SEM 的自动化解决方案允许用户识别各类污染物颗粒并采集其化学成分信息,然后分析污染物具体的构成并分类。
使用飞纳 Particle X,电镜就可以自动识别每一颗颗粒,并在这些颗粒上做能谱分析。


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