
通过升级扫描电子显微镜 (SEM),维苏威集团提高了铝材洁净度检测的效率,并提升了铸铝产品的整体质量。借助 Phenom ParticleX 自动化分析系统,该公司科学家现在能够在同一铝样品上检测到比以往多 7 到 8 倍的颗粒,速度更快,效率更高。
从1992年ASPEX到2025年ParticleX,三次迭代、28年研发,这套扫描电镜钢铁夹杂物分析系统已实现30秒抽真空、全自动统计数万颗粒,2分钟出具成分、尺寸、分布报告,成为洁净钢工艺优化与高品质高附加值钢材检测的必备工具。
SEM 可结合二次电子(SE)与背散射电子(BSE)信号,清晰区分不同夹杂物与基体的形貌差异,揭示夹杂物演变机制


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