扫描电镜成像主要是利用样品表面的微区特征,如形貌、原子序数、晶体结构或位向等差异,在电子束作用下产生不同强度的物理信号,使荧光屏上不同的区域呈现出不同的亮度,从而获得具有一定衬度的图像。
扫描电镜(Scanning Electron Microscope, SEM)是一种利用高能电子束扫描样品表面,并通过检测电子与样品相互作用产生的信号,获得样品表面微观结构的成像工具。其主要特点在于超高分辨率,通常在亚微米至纳米级范围内,可以清晰呈现细小结构,如细胞、纳米颗粒、金属晶粒等。
分析测定钢中非金属夹杂物的是一项复杂的工作,它既需要对钢样中存在的大量夹杂物进行定量分析,测量其尺寸、形貌等,又需要测定它们的化学组成和分布、以及变化趋势等。目前,常用的夹杂物分析方法有:光镜金相法、手动扫描电镜分析法、全自动扫描电镜分析法等。
由于牛奶纸盒包装材料由非导电材料组成,使用飞纳台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL G2 的低真空模式来减小测试过程中的充电效应,并直接获取样本 SEM 图像。使用全景拼图软件(AIM)对纸盒接缝区域进行大面积成像,并将图像无缝拼接在一起。此外,进行 EDS 分析以确定包装材料的各层成分组成。
扫描电镜的加速电压与束流强度对成像有着决定性的影响。
近期飞纳台式场发射扫描透射电子显微镜 Phenom Pharos G2 STEM 在上海精准医学研究院(以下简称精准院)电镜平台成功落户,完成装机验收。
如果你正在调研扫描电镜(SEM),你可能已经知道,灯丝是电镜中最重要的部分之一。在这篇博客,我们将仔细讨论钨灯丝和CeB6灯丝。
谈起来清洁度的分析,光学显微镜和电子显微镜是清洁度分析领域常用的两种仪器,那么这两种分析方法有什么区别呢?
小编总结了一些引起样品飘移的原因及解决方法,希望可以帮助到大家。
春节长假即将来临,大家在确保假期出行安全的情况下,也不要忘记注意实验室及设备的安全。飞纳电镜为您总结了以下实验室及设备安全小贴士:
能谱是电子显微镜中的常用技术,是一种快速、准确、无损的成分分析技术,这使得能谱在冶金、表面分析、矿物学等领域极具吸引力。
能量色散 X 射线谱 (能谱) 是一种检测手段,它分析的是由入射电子束激发样品原子所产生的 X 射线。
小编整理了 ”扫描电镜的制样经验与拍摄技巧“研讨会大家提到的问题,作出以下解答供参考。后续还将推出扫描电镜能谱相关的课程,请大家关注飞纳电镜公众号动态。
扫描电子显微镜主要用于样品表面微观形貌观察,但在观察样品过程中经常由于荷电效应使得图像异常变亮、畸变,甚至出现图像模糊的情况,严重影响成像质量
我们在使用普通光学透镜时,把光作为介质进行成像,通过玻璃透镜的折射偏转把光汇聚成“一点”来聚焦成像。扫描电镜使用的介质不是光,而是电子。虽然介质不同,但是与光学玻璃透镜一样,扫描电镜也普遍存在像差问题,而这些各种各样的像差,正在背后悄悄地影响着电镜成像。
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